DIC100-Serie – Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskopsystem Differentielle Interferenzkontrast-Mikroskopie
Produktübersicht
Das DIC-Mikroskopsystem basiert auf der Interferenz zweier polarisiert getrennter Strahlen:
1. Linear polarisiertes Licht aus dem Polarisator wird im doppelbrechenden Nomarski-Prisma in zwei orthogonal schwingende Strahlen mit definierter Phasendifferenz aufgeteilt.
2. Treffen die Strahlen auf die Probe, erzeugen Reliefs oder Brechungsindex-Variationen optische Weglängenunterschiede; nach der Reflexion vereinen sie sich erneut im Nomarski-Prisma.
3. Der Analysator richtet die Schwingungsebenen aus, sodass Interferenz entsteht.
4. Durch Interferenz und Amplitudenänderung werden Details kontrastreicher und wirken plastisch.
Das Nomarski-Prisma lässt sich horizontal verschieben und wirkt wie ein Phasenkompensator, wodurch Helligkeit und Interferenzfarbe zwischen Objekt und Hintergrund variieren, bis der gewünschte Eindruck erreicht ist. Abbildung 1 zeigt das DIC100-System.
Hauptmerkmale
- Objektive mit Standard- oder langem Arbeitsabstand (optional)
- Bildkanal: 1× (Tubusbrennweite 180 mm); kundenspezifische Reduzierer verfügbar
- Bildkanal – Bildfeldgröße: 25 mm
- Bildkanal – Spektralbereich: 400–700 nm
- Kameraanschluss: C-Mount
- Beleuchtungsmethode: Köhler-Beleuchtung
- Beleuchtung: 10 W Weiß-LED / 3 W Blau-LED
Systemkonfiguration und Parameter
Professionelles differentielles Interferenzkontrast-Mikroskopsystem bietet hervorragende Bildgebungslösungen für transparente Proben
Funktionsprinzip des Systems
Das DIC (Differential Interference Contrast)-Mikroskopsystem erzeugt Hochkontrastbilder anhand der Interferenz zweier polarisiert getrennter Lichtbündel.
Strahlaufspaltung
Lineares Polarlicht wird im Nomarski-Prisma in zwei orthogonale Strahlen mit Phasendifferenz aufgeteilt
Wechselwirkung mit der Probe
Zwei inkohärente Strahlen beleuchten die Probe; mikroskopische Reliefs oder Brechungsindexunterschiede erzeugen optische Weglängendifferenzen.
Strahlvereinigung und Interferenz
Die beiden Strahlen werden nach der Reflexion am Sample erneut im Nomarski-Prisma vereinigt; der Analysator richtet die Schwingungsrichtungen aus, sodass Interferenz entsteht.
Kontraststeigerung
Interferenz und Amplitudenänderungen verstärken den Kontrast und erzeugen einen plastischen Reliefeindruck
Objektiv-Serienparameter
Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (Parfokale Länge 60 mm, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DIC5XA | 5X | 0.15 | 23.5 mm | 39 mm | 2.2 μm | 5 mm | 25 mm |
| DIC10XA | 10X | 0.3 | 22.8 mm | 20 mm | 1.1 μm | 2.5 mm | 25 mm |
| DIC20XA | 20X | 0.4 | 19.2 mm | 10 mm | 0.8 μm | 1.1 mm | 25 mm |
| DIC50XA | 50X | 0.55 | 11 mm | 4 mm | 0.6 μm | 0.44 mm | 25 mm |
Objektivserie mit langem Arbeitsabstand (Parfokale Länge 95 mm, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DICL2XA | 2X | 0.055 | 33.7 mm | 100 mm | 6.1 μm | 12.5 mm | 25 mm |
| DICL5XA | 5X | 0.14 | 33.6 mm | 40 mm | 2.2 μm | 5 mm | 25 mm |
| DICL10XA | 10X | 0.28 | 33.4 mm | 20 mm | 1.2 μm | 2.5 mm | 25 mm |
| DICL20XA | 20X | 0.34 | 29.5 mm | 10 mm | 0.8 μm | 1.25 mm | 25 mm |
| DICL50XA | 50X | 0.5 | 18.9 mm | 4 mm | 0.7 μm | 0.5 mm | 25 mm |
Technische Systemspezifikationen
Optisches System
- Bildgebungspfad
- 1× (Tubuslinse 180 mm), kundenspezifische Reduzieroptiken mit unterschiedlichen Faktoren verfügbar
- Bildfeldgröße
- 25 mm
- Spektralbereich
- 400–700 nm
- Tubuslinsenfokus
- 200 mm
Beleuchtungssystem
- Beleuchtungsart
- Köhler-Beleuchtung
- Lichtquelle
- 10 W Weiß-LED / 3 W Blau-LED
Mechanisches System
- Kamera-Anschluss
- C-Mount
- Objektivgewinde
- M26×0.705
- Prismen-Einstellung
- Feinjustierung der horizontalen Position
Typische Anwendungsfälle
Erfolgreiche Anwendungen des DIC100-Systems in verschiedenen Bereichen
Leitfähige Partikelprüfung bei LCD/OLED-Produkten
Die Anzahl leitfähiger Partikel in LCD-Leiterbahnen ist entscheidend für die Leitfähigkeit: Zu wenige schränken sie ein und verursachen Anzeigeprobleme, zu viele verschwenden Material. Das DIC100-System macht Partikelkonturen deutlich sichtbar, zählt sie exakt und analysiert die Verteilung – ohne dass anhaftende Partikel die Statistik verfälschen.
- Konturen leitfähiger Partikel klar sichtbar
- Genaue Identifikation und Zählung aggregierter Partikel
- Erhöht die Genauigkeit der Prüfergebnisse
- Blau-LED mit Monochromkamera liefert maximalen Kontrast
- Weiß-LED mit Farbkamera liefert natürliche Farben
Nachweis von Rissen und Defekten auf der Probenoberfläche
Als leistungsfähige Methode der modernen Metallographie stellt DIC geringere Anforderungen an die Probenpräparation, erzeugt deutliche Reliefwirkungen und macht feinste Strukturen oder Defekte sichtbar, die im Hellfeld kaum oder gar nicht erkennbar sind.
- Visualisierung von Partikeln, Poren, Rissen und Reliefdetails im Sample
- Geringe Anforderungen an die Probenpräparation
- Erzeugt deutlichen 3D-Reliefeindruck
- Steigert die Zuverlässigkeit der Materialanalyse
Weitere Anwendungsbereiche
Nachweis mikrobieller Zellen
Die DIC100-Serie ermöglicht zerstörungsfreie Untersuchung lebender Zellen; je nach optischer Färbung lassen sich unterschiedliche Interferenzfarben einstellen. Durch Fokusvariation entstehen klare Bilder verschiedener Ebenen, sodass zelluläre Strukturen hochauflösend dargestellt werden.
- Schonende Beobachtung lebender Zellen
- Mehrschichtige, klar abgegrenzte Abbildung
- Intrazelluläre Konturen klar erkennbar
Vergleich mit anderen Mikroskopietechniken
| Vergleichstechnik | DIC-Technologie-Vorteile |
|---|---|
| Standard-Metallografiemikroskop | Mit DIC werden feine Strukturen und Defekte sichtbar, die im Hellfeldmetallmikroskop nicht oder kaum erkennbar sind. |
| Biologisches Mikroskop | DIC liefert höheren Kontrast und plastische 3D-Wirkung und erlaubt die Beobachtung transparenter Proben ohne Färbung. |
| Phasenkontrastmikroskop | DIC zeigt keine Halo-Effekte, erhöht die Auflösung und liefert klarere Bilder. |
| Fluoreszenzmikroskop | DIC funktioniert ohne Färbung, ermöglicht Live-Beobachtungen und vermeidet Phototoxizität sowie Photobleaching. |
Systemkonfiguration und Zubehör
Standardkonfiguration
- DIC100-Hauptsystem
- Nomarski-Prismenmodul
- Polarisator
- Analysator
- 10 W LED-Beleuchtungssystem
- Standard-C-Mount-Adapter
Optionales Zubehör
- Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (2,5×–50×)
- Langarbeitsabstandsobjektive (2×–50×)
- Kameraadapter M42/M52
- Reduzieroptiksystem
- Modul für kritische bzw. Köhler-Beleuchtung
- Weiß-/Blau-LED-Beleuchtung
Die DIC100-Serie verfügt über ein modulares Design und kann flexibel entsprechend spezifischen Anwendungsanforderungen konfiguriert werden
DIC100-Systemvorteile
Professionelle differentielle Interferenzkontrast-Technologie bietet hervorragende Bildgebungseffekte
Hervorragende Kontrastverstärkung
Durch Doppelstrahl-Interferenztechnik werden Phasendifferenzen in Amplitudendifferenzen umgewandelt, wodurch kleinste Details transparenter Proben deutlich sichtbar werden.
Dreidimensionale Bildgebung
Einzigartiger Reliefeffekt verleiht der Probenoberfläche einen dreidimensionalen Eindruck, erleichtert die Beobachtung und Analyse kleinster Strukturen.
Flexible Systemkonfiguration
Wählbare Standard-/Langer Arbeitsabstand-Objektive, anpassbar an verschiedene Proben und Anwendungsanforderungen, erfüllt vielfältige Prüfanforderungen.
Präzises Einstellsystem
Horizontale Präzisionseinstellung des Nomarski-Prismas ermöglicht optimale Interferenzeffekte und Bildqualität.
Zerstörungsfreie Lebendbeobachtung
Beobachtung lebender Zellen ohne Färbung möglich, vermeidet Phototoxizität und Photobleaching, bewahrt Probenaktivität.
Hochauflösende Bildgebung
Keine Halo-Effekte, Auflösung übertrifft Phasenkontrast-Mikroskope, liefert klarere Bilddetails.