DIC (Differential Interference Contrast) ist ein Mikroskopiesystem, das nach dem Prinzip der Polarisationsinterferenz mit zwei Strahlen arbeitet. Der Prozess ist wie folgt:
1. Nachdem das vom Polarisator ausgestrahlte linear polarisierte Licht ein Nomarski-Prisma mit Doppelbrechungseigenschaften passiert hat, wird es in zwei polarisierte Lichtstrahlen zerlegt, die senkrecht zueinander schwingen und eine bestimmte Phasendifferenz aufweisen;
2. nachdem zwei inkohärente Lichtstrahlen auf die Probe gestrahlt wurden, verursacht die leichte Unebenheit oder der Unterschied im Brechungsindex auf der Oberfläche der Probe im Sichtfeld einen optischen Wegunterschied zwischen den beiden Lichtstrahlen. Nachdem sie von der Probe reflektiert wurden, passieren die beiden Lichtstrahlen das Nomarski-Prisma und vereinigen sich wieder;
3.
3. das vereinigte Licht durchläuft den Analysator, um ihre Schwingungsrichtungen zu vereinheitlichen und zu interferieren;
4. der Hell-Dunkel-Kontrast der Probendetails wird durch die Interferenz und die Amplitudenänderungen des Lichtstrahls verstärkt. Gleichzeitig zeigt das Bild der Probendetails einen dreidimensionalen, reliefartigen Effekt.
Das Nomarski-Prisma kann horizontal verstellt werden, was wie ein Phasenverschiebungskompensator wirkt, um die Helligkeit und Interferenzfarbe zwischen dem Objekt und dem Hintergrund im Sichtfeld zu verändern und so den idealen Beobachtungseffekt zu erzielen. Abbildung 1 zeigt das Differenzialinterferenzmikroskop der Serie DIC100.
- Abbildung Lichtweg: 1X (Brennweite des Tubusobjektivs 180 mm), verschiedene Vergrößerungsobjektive können angepasst werden;
- Abbildende Lichtweg Bildfläche Größe: 25mm;
- Spektralbereich des Abbildungslichtweges: sichtbares Licht;
- Kamera-Schnittstelle: C/M42/M52, etc. optional;
- Beleuchtungsmethode: Kritische Beleuchtung / Kohler-Beleuchtung (optional);
- Beleuchtungsquelle: 10W weiße/blaue LED (optional);
Arbeitsabstand Objektivparameter (45 mm parfokale Länge)
Bestellcode |
Vergrößerung |
NA |
WD/mm |
Brennweite(mm) |
Auflösung(um) |
OFOV(mm) |
IFOV(mm) |
Faden |
DICL2.5XA |
2.5X |
0.075 |
6.2 |
8 0 |
4.46 |
10 |
25 |
M26*0.705 |
DICL5XA |
5X |
0.15 |
23.5 |
40 |
2.2 |
5 |
25 |
M26*0.705 |
DICL10XA |
10X |
0.30 |
22.8 |
20 |
1.1 |
2.5 |
25 |
M26*0.705 |
DICL20XA |
20X |
0.40 |
19.2 |
10 |
0.8 |
1.1 |
25 |
M26*0.705 |
DICL50XA |
50X |
0.55 |
11.0 |
4 |
0.6 |
0.44 |
25 |
M26*0.705 |
Arbeitsabstand Objektivparameter (60 mm parfokale Länge)
Mikroskopiesystem der DIC100-Serie Abmessungen
Erkennung leitfähiger Partikel bei LCD/OLED und anderen Produkten
Die Anzahl der leitfähigen Partikel in einem LCD-Schaltkreis ist der Schlüssel zur Bestimmung seiner Leitfähigkeit. Weniger leitfähige Partikel verringern die leitfähige Leistung des Schaltkreises und können zu Anzeigefehlern auf dem LCD-Bildschirm führen; zu viele leitfähige Partikel führen zu einer Verschwendung von Rohstoffen. Außerdem wirkt sich das Vorhandensein von anhaftenden leitfähigen Partikeln in der Schaltung stärker auf die Partikelzählung aus, so dass die berechnete Anzahl der Partikel geringer ist als die tatsächliche Anzahl, was die Genauigkeit der Erkennungsergebnisse beeinträchtigt.
Abbildung 3
Abbildung 3 ist ein Bild von leitfähigen Partikeln auf einem LCD-Bildschirm, das mit einem DIC-Mikroskopsystem aufgenommen wurde; Abbildung 4 ist ein Bild der gleichen Position auf dem LCD-Bildschirm, das mit einem metallographischen Mikroskopsystem aufgenommen wurde. In Abbildung 3 sind die Umrisse der leitfähigen Partikel deutlich zu erkennen, aber in Abbildung 4 sind die leitfähigen Partikel mit dem metallographischen Mikroskopsystem nicht zu sehen.
Abbildung 3 Das Mikroskopiesystem der DIC100-Serie nimmt leitfähige Partikel auf dem LCD-Bildschirm auf (oben) blaue LED-Beleuchtung + Schwarz-Weiß-Kamera; (unten) weiße LED-Beleuchtung + Farbkamera
Abbildung 4 Metallografisches Mikroskopsystem erfasst LCD-Bildschirm (oben) blaue LED-Beleuchtung + Schwarz-Weiß-Kamera; (unten) weiße LED-Beleuchtung + Farbkamera
Sample surface crack and defect detection
Als eine der leistungsfähigsten Detektions- und Analysemethoden in der modernen metallographischen Werkstoffprüfung hat die Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskopie viele Vorteile, darunter relativ geringe Anforderungen an die Probenpräparation und ein deutliches Gefühl der Erleichterung bei der Betrachtung unter dem Mikroskop.
Abbildung 5 Realaufnahme einer Metalloberfläche (links) metallografisches Mikroskopsystem; (rechts) Mikroskopsystem der DIC100-Serie
Abbildung 5 zeigt Details wie feine Strukturen oder Defekte, die mit einem gewöhnlichen metallografischen Mikroskop auf der linken Seite im Auflichtfeld nicht oder kaum sichtbar sind, aber mit dem Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskopsystem der DIC100-Serie auf der rechten Seite leicht beobachtet werden können. Darüber hinaus kann das Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskopiesystem der DIC100-Serie auch die Details von Partikeln, Löchern, Rissen und ungleichmäßigen Konturen in der Probe beobachten, was die Materialanalyse zuverlässiger macht.
Nachweis mikrobieller Zellen
Das Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskopsystem der Serie DIC 100 kann die Aktivität lebender Zellen zerstörungsfrei nachweisen. Je nach dem Effekt der optischen Färbung kann es Bilder mit verschiedenen Interferenzfarben debuggen; die Brennweite ändern, um klare Bilder auf verschiedenen Ebenen zu erhalten; mit hoher Auflösung kann es die intrazellulären Konturen klar anzeigen. struktur. Die Abbildungen 6 und 7 zeigen die Vergleichsergebnisse.
Bestellcode
Vergrößerung
NA
WD/mm
Brennweite(mm)
Auflösung(um)
OFOV(mm)
IFOV(mm)
Faden
DIC5XA
5X
0.15
20
3 6
2.23
5
25
M20*0.705
DIC10XA
10X
0.30
15
1 8
1.1
2.5
25
M20*0.705
DIC20XA
20X
0.40
10
9
0.75
1.25
25
M20*0.705
DIC50XA
50X
0.80
2.5
3.6
0.41
0.5
25
M20*0.705