BMM100-Serie Hellfeld-metallographisches Mikroskopsystem Hellfeld-Metallographische Bildgebung
Produktübersicht
Das Hellfeld-metallographische Mikroskop (Brightfield Metallographic Microscope) besteht hauptsächlich aus Beleuchtungs-, Bildgebungs- und mechanischem System. Es ist ein präzises optisches Instrument, das in vielen Bereichen der modernen Wissenschaft und Technik eingesetzt wird und ein wichtiges Prüfwerkzeug darstellt. Insbesondere in Biologie, Geologie, Mineralogie und Medizin gewinnt die Metallographie-Mikroskopie zunehmend an Bedeutung.
Hauptmerkmale
- Integriertes Präzisionsdesign der drei Hauptsysteme (Beleuchtung, Bildgebung, Mechanik)
- Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie (60 mm Parfokalabstand)
- Langarbeitsabstand-Objektivserie (95 mm Parfokalabstand)
- Bildpfad: 1X (Tubuslinse 180 mm), Reduktionsoptiken mit unterschiedlichen Vergrößerungen kundenspezifisch
- Bildfeldgröße im Bildpfad: 25 mm
- Spektralbereich im Bildpfad: sichtbares Licht
- Kameraschnittstelle: C/M42/M52 optional
- Beleuchtung: kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
- Lichtquelle: 10 W Weißlicht/Blau-LED optional
Systemkonfiguration und Parameter
Professionelles Hellfeld-Metallographisches Mikroskopsystem für präzise Bildgebungslösungen in der Materialprüfung
Funktionsprinzip des Systems
Das BMM100-System nutzt reflektierte Hellfeldbeleuchtung und präzises optisches Design für hochwertige Abbildung der Materialmikrostruktur.
Beleuchtungssystem
Gleichmäßige, stabile Auflichtbeleuchtung mit kritischer oder Köhler-Beleuchtung für optimale Ausleuchtung der Probenoberfläche.
Bildgebungssystem
Hochwertige optische Komponenten und optimierter Strahlengang in Kombination mit professionellen Objektiven für hochauflösende, kontrastreiche Bildgebung.
Mechanisches System
Präzise Mechanik sorgt für Systemstabilität und Wiederholgenauigkeit, geeignet für langandauernde Beobachtung und Inspektion.
Objektiv-Serienparameter
Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie (60 mm Parfokaldistanz, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BF5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 39mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| BF10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| BF20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8μm | 1.1mm | 25mm |
| BF50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6μm | 0.44mm | 25mm |
Langarbeitsabstand-Objektivserie (95 mm Parfokaldistanz, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BFL2XA | 2X | 0.055 | 33.7mm | 100mm | 6.1μm | 12.5mm | 25mm |
| BFL5XA | 5X | 0.14 | 33.6mm | 40mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| BFL10XA | 10X | 0.28 | 33.4mm | 20mm | 1.2μm | 2.5mm | 25mm |
| BFL20XA | 20X | 0.34 | 29.5mm | 10mm | 0.8μm | 1.25mm | 25mm |
| BFL50XA | 50X | 0.5 | 18.9mm | 4mm | 0.7μm | 0.5mm | 25mm |
Technische Systemspezifikationen
Optisches System
- Bildgebungspfad
- 1X (Tubuslinse 180 mm), Reduktionsoptiken mit unterschiedlichen Vergrößerungen kundenspezifisch
- Bildfeldgröße
- 25mm
- Spektralbereich
- sichtbares Licht
- Tubuslinsenfokus
- 180mm
Beleuchtungssystem
- Beleuchtungsart
- kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
- Lichtquelle
- 10 W Weißlicht/Blau-LED
- Lichtquellenoptionen
- 10 W Weißlicht-LED/Blau-LED optional
Mechanisches System
- Kamera-Anschluss
- C/M42/M52 optional
- Objektivgewinde
- M26×0,705
- Fokussiermechanismus
- Präzisions-Fokussiersystem
Typische Anwendungsfälle
Professionelle Anwendungen des BMM100-Systems in verschiedenen Bereichen
Prüfung von Metall- und Legierungsmaterialien
Die BMM100-Serie spielt eine wichtige Rolle bei der Analyse der Mikrostruktur von Metallen und Legierungen. Sie ermöglicht die klare Beobachtung von Kornstrukturen, Phasen, Einschlüssen und Defekten und liefert eine zuverlässige Grundlage für Materialbewertung und Qualitätskontrolle.
- Hochauflösende Beobachtung der Metallkornstruktur
- Präzise Identifikation von Phasen und Einschlüssen
- Klare Darstellung von Oberflächendefekten
- Unterstützt quantitative metallographische Analyse
- Geeignet für verschiedene Metalle und Legierungen
Inspektion von LCD-Displays
Das System wird in der LCD-Fertigung zur Prüfung von Pixelstrukturen, Leiterbahnverbindungen und Verteilung leitfähiger Partikel eingesetzt, um Anzeigequalität und Zuverlässigkeit sicherzustellen.
- Klare Beobachtung der Pixelstruktur
- Präzise Prüfung der Leiterbahnverbindung
- Bewertung der Gleichmäßigkeit leitfähiger Partikel
- Erkennung von Anzeigeabweichungen und Defekten
- Unterstützt Integration in automatisierte Inspektion
Weitere Anwendungsbereiche
Prüfung nichtmetallischer Materialien
Die BMM100-Serie eignet sich auch für die Beobachtung der Oberflächenmorphologie und inneren Struktur von Kunststoffen, Keramiken und Verbundwerkstoffen und unterstützt Materialentwicklung und Qualitätskontrolle.
- Beobachtung von Oberflächentexturen bei Kunststoffen
- Detektion der Faserverteilung in Verbundwerkstoffen
- Analyse der Kornstruktur in Keramiken
Geologische und mineralogische Analyse
In Geologie und Mineralogie wird die BMM100-Serie für Mineralbestimmung, Gesteinsstrukturanalyse und Erzgehaltsbewertung eingesetzt und ist ein wichtiges Werkzeug für Exploration und Rohstoffentwicklung.
- Präzise Identifikation von Mineralbestandteilen
- Analyse der Gesteinsmikrostruktur
- Bewertung des Erzgehalts
Biomedizinische Forschung
Das System wird in der Biomedizin für Gewebeschnitte, Zellmorphologie und pathologische Diagnostik eingesetzt und liefert präzise mikroskopische Bilder für Forschung und Klinik.
- Hochauflösende Bildgebung von Gewebeschnitten
- Präzise Beobachtung der Zellmorphologie
- Unterstützt pathologische Diagnostik
Vorteile im Vergleich zu anderen Mikroskopietechniken
| Vergleichstechnik | BMM100-System Vorteile |
|---|---|
| Dunkelfeldmikroskop | Das BMM100-Hellfeldsystem bietet realistischere Farbwiedergabe und höheren Bildkontrast, geeignet für die meisten Routineprüfungen. |
| Polarisationsmikroskop | Das BMM100-System ist einfacher zu bedienen, erfordert keine spezielle Probenpräparation und ist breiter einsetzbar. |
| Fluoreszenzmikroskop | BMM100 benötigt keine Fluoreszenzmarkierung, beobachtet intrinsische Materialeigenschaften direkt und reduziert Kosten. |
| Elektronenmikroskop | BMM100 ist einfach zu bedienen, benötigt kein Vakuum, kann lebende Proben beobachten und hat geringe Wartungskosten. |
Systemkonfiguration und Zubehör
Standardkonfiguration
- BMM100-Hauptsystem
- 10 W LED-Beleuchtungssystem
- Präziser Fokussiermechanismus
- Standard-C-Mount-Adapter
- Vibrationsdämpfender Sockel
Optionales Zubehör
- Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie (5X-50X)
- Langarbeitsabstand-Objektivserie (2X-50X)
- M42/M52-Kameraadapter
- Reduktionsoptik-System (0.5X/0.63X/0.75X)
- Kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtungsmodul
- Weißlicht-/Blau-LED-Lichtquelle
- Probenhalterung
- Staubschutzhaube
Die BMM100-Serie verfügt über ein modulares Design und kann flexibel entsprechend spezifischen Prüfanforderungen konfiguriert werden
BMM100-Systemvorteile
Professionelle Hellfeld-Metallographische Mikroskopietechnik für präzise Materialprüflösungen
Hochpräzises Bildgebungssystem
Optimiertes optisches Design und hochwertige optische Elemente gewährleisten scharfe, klare Bilder mit authentischer Farbwiedergabe.
Breites Anwendungsspektrum
Geeignet für die Prüfung verschiedener Materialien wie Metalle, Legierungen, Kunststoffe und Keramik. Erfüllt die Qualitätskontrollanforderungen verschiedener Branchen.
Modulares Design
Flexible Konfigurationsoptionen ermöglichen die Auswahl von Objektiven, Beleuchtungsmodi und Kamera-Anschlüssen nach Bedarf. Einfache Upgrades und Wartung.
LED-Kaltlichtbeleuchtung
10 W Hochleistungs-LED-Beleuchtung mit geringer Wärmeentwicklung und langer Lebensdauer bietet stabile und gleichmäßige Beleuchtung.
Stabile mechanische Struktur
Präzisions-Fokussiermechanismus und Anti-Vibrations-Design gewährleisten langfristige Genauigkeit und Bildstabilität.
Einfache Bedienung
Keine spezielle Probenvorbereitung erforderlich, intuitive Bedienoberfläche ermöglicht schnelle Einarbeitung und verbesserte Prüfeffizienz.