BMM100-Serie – Brightfield-Metallografiesystem Hellfeld-Metallographische Bildgebung
Produktübersicht
Das Hellfeld-Metallografiemikroskop besteht aus Beleuchtungs-, Bildgebungs- und Mechaniksystemen. Als präzises optisches Instrument ist es in vielen Bereichen der modernen Wissenschaft ein unverzichtbares Prüfwerkzeug – besonders in Biologie, Geologie, Mineralogie und Medizin gewinnt es stetig an Bedeutung.
Hauptmerkmale
- Präzise Integration der drei Hauptsysteme (Beleuchtung, Bildgebung, Mechanik)
- Standardarbeitsabstandsobjektive (60 mm parfokal)
- Langarbeitsabstandsobjektive (95 mm parfokal)
- Doppelt wählbar: kritische oder Köhler-Beleuchtung
- 10 W Hochleistungs-LED-Beleuchtungssystem
- 25-mm-Großbildformat-Design
- Kameraanschlüsse C/M42/M52 adaptierbar
- Weiß-/Blau-LED wählbar
Systemkonfiguration und Parameter
Professionelles Hellfeld-Metallographisches Mikroskopsystem für präzise Bildgebungslösungen in der Materialprüfung
Funktionsprinzip des Systems
Das Brightfield-Metallografiesystem der BMM100-Serie nutzt reflektierende Hellfeldbeleuchtung und präzise Optik, um hochwertige Mikrostrukturaufnahmen von Materialien zu erzeugen.
Beleuchtungssystem
Bietet gleichmäßige epi-Beleuchtung, wahlweise kritische oder Köhler-Beleuchtung – optimale Ausleuchtung der Probe
Bildgebungssystem
Hochwertige Optiken und optimierte Strahlwege plus professionelle Objektive liefern hochauflösende, kontrastreiche Bilder
Mechaniksystem
Präzise Mechanik gewährleistet Stabilität und Wiederholgenauigkeit – unterstützt Langzeitbeobachtung
Objektiv-Serienparameter
Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (Parfokale Länge 60 mm, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BF5XA | 5X | 0.15 | 22mm | 36mm | 2.23μm | 5mm | 25mm |
| BF10XA | 10X | 0.3 | 15mm | 18mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| BF20XA | 20X | 0.4 | 10mm | 9mm | 0.75μm | 1.25mm | 25mm |
| BF50XA | 50X | 0.8 | 2.5mm | 3.6mm | 0.41μm | 0.5mm | 25mm |
Objektivserie mit langem Arbeitsabstand (Parfokale Länge 95 mm, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektsichtfeld | Bildsichtfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BFL2.5XA | 2.5X | 0.075 | 6.2mm | 80mm | 4.46μm | 10mm | 25mm |
| BFL5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 40mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| BFL10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| BFL20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8μm | 1.1mm | 25mm |
| BFL50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6μm | 0.44mm | 25mm |
Technische Systemspezifikationen
Optisches System
- Bildgebungspfad
- 1× (Tubuslinse 180 mm), kundenspezifische Reduzieroptiken mit unterschiedlichen Faktoren verfügbar
- Bildfeldgröße
- 25mm
- Spektralbereich
- Sichtbares Licht
- Tubuslinsenfokus
- 200mm
Beleuchtungssystem
- Beleuchtungsart
- Kritische oder Köhler-Beleuchtung wählbar
- Lichtquelle
- 10W LED
- Lichtquellenoptionen
- Weiß- oder Blau-LED verfügbar
Mechanisches System
- Kamera-Anschluss
- C/M42/M52 u. a. verfügbar
- Objektivgewinde
- M26×0,705
- Fokussiermechanismus
- Präzisions-Fokussiersystem
Typische Anwendungsfälle
Professionelle Anwendungen des BMM100-Systems in verschiedenen Bereichen
Prüfung metallischer Legierungen
Bei metallischen Werkstoffen spielt die BMM100-Serie eine zentrale Rolle in der Mikrostrukturanalyse: Kornstrukturen, Phasen, Einschlüsse und Defekte werden klar sichtbar und liefern belastbare Grundlagen für Leistungsbewertungen und Qualitätskontrolle.
- Hochauflösende Beobachtung von Metallkornstrukturen
- Exakte Identifikation von Phasenstrukturen und Einschlüssen
- Stellt Oberflächendefekte deutlich dar
- Ermöglicht quantitative Metallanalyse
- Für verschiedene Metalle und Legierungen geeignet
LCD-Prüfung
Bei der LCD-Fertigung kontrolliert das System Pixelstrukturen, Flexverbindungen und leitfähige Partikelverteilungen – zentrale Qualitätskriterien für Bildqualität und Zuverlässigkeit.
- Klarer Blick auf die Pixelstruktur von LCDs
- Exakte Prüfung der Flexleiterverbindungen
- Bewertung der Homogenität leitfähiger Partikel
- Erkennung von Displaydefekten
- Eignet sich für automatisierte Prüfprozesse
Weitere Anwendungsbereiche
Prüfung nichtmetallischer Materialien
Die BMM100-Serie eignet sich ebenso für die Beobachtung von Oberflächen und inneren Strukturen nichtmetallischer Materialien wie Kunststoffe, Keramiken oder Verbundstoffe und unterstützt Materialentwicklung sowie Qualitätskontrolle.
- Analyse der Oberflächentextur von Kunststoffen
- Analyse der Faserverteilung in Verbundwerkstoffen
- Analyse der Kornstrukturen keramischer Materialien
Geologische und mineralische Analyse
In Geologie und Rohstoffforschung dient die BMM100-Serie zur Mineralidentifikation, Gesteinsstrukturanalyse und Bewertung von Lagerstätten – ein wichtiges Werkzeug für Exploration und Abbau.
- Zuverlässige Bestimmung mineralischer Bestandteile
- Analyse mikroskopischer Gesteinsstrukturen
- Bewertung des Erzgehalts
Biomedizinische Forschung
In der Biomedizin liefert das System präzise Mikrobilder für Gewebeschnitte, Zellmorphologie und pathologische Diagnosen und unterstützt Forschung wie klinische Anwendungen.
- Hochauflösende Bildgebung von Gewebeschnitten
- Präzise Beobachtung der Zellmorphologie
- Unterstützt pathologische Befundung
Vorteile gegenüber anderen Mikroskopietechniken
| Vergleichstechnik | BMM100-System Vorteile |
|---|---|
| Dunkelfeldmikroskop | Das BMM100-Brightfield-System liefert realistische Farbwiedergabe und höheren Bildkontrast – passend für die meisten Standardmaterialprüfungen. |
| Polarisationsmikroskop | Das BMM100-System ist einfach zu bedienen, erfordert keine spezielle Präparation und deckt ein breites Anwendungsspektrum ab. |
| Fluoreszenzmikroskop | BMM100 benötigt keine Fluoreszenzmarkierungen und beobachtet intrinsische Materialeigenschaften direkt – kostengünstiger. |
| Elektronenmikroskop | Das BMM100-System ist leicht zu bedienen, benötigt kein Vakuum, erlaubt Beobachtungen lebender Proben und verursacht geringe Wartungskosten. |
Systemkonfiguration und Zubehör
Standardkonfiguration
- BMM100-Hauptsystem
- 10 W LED-Beleuchtungssystem
- Präziser Fokussiermechanismus
- Standard-C-Mount-Adapter
- Schwingungsdämpfende Basis
Optionales Zubehör
- Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (5×–50×)
- Langarbeitsabstandsobjektive (2×–50×)
- Kameraadapter M42/M52
- Reduzieroptiksystem (0,5×/0,63×/0,75×)
- Modul für kritische bzw. Köhler-Beleuchtung
- Weiß-/Blau-LED-Beleuchtung
- Probenhaltevorrichtung
- Staubschutzabdeckung
Die BMM100-Serie verfügt über ein modulares Design und kann flexibel entsprechend spezifischen Prüfanforderungen konfiguriert werden
BMM100-Systemvorteile
Professionelle Hellfeld-Metallographische Mikroskopietechnik für präzise Materialprüflösungen
Hochpräzises Bildgebungssystem
Optimiertes optisches Design und hochwertige optische Elemente gewährleisten scharfe, klare Bilder mit authentischer Farbwiedergabe.
Breites Anwendungsspektrum
Geeignet für die Prüfung verschiedener Materialien wie Metalle, Legierungen, Kunststoffe und Keramik. Erfüllt die Qualitätskontrollanforderungen verschiedener Branchen.
Modulares Design
Flexible Konfigurationsoptionen ermöglichen die Auswahl von Objektiven, Beleuchtungsmodi und Kamera-Anschlüssen nach Bedarf. Einfache Upgrades und Wartung.
LED-Kaltlichtbeleuchtung
10 W Hochleistungs-LED-Beleuchtung mit geringer Wärmeentwicklung und langer Lebensdauer bietet stabile und gleichmäßige Beleuchtung.
Stabile mechanische Struktur
Präzisions-Fokussiermechanismus und Anti-Vibrations-Design gewährleisten langfristige Genauigkeit und Bildstabilität.
Einfache Bedienung
Keine spezielle Probenvorbereitung erforderlich, intuitive Bedienoberfläche ermöglicht schnelle Einarbeitung und verbesserte Prüfeffizienz.