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SWIR-Kameraserie von ToupTek Photonics
Macht unsichtbare Informationen sichtbar
Breites Spektrum – ein System deckt sichtbares Licht bis SWIR ab
Versionen für 400–1700 nm oder 900–1700 nm mit einer Quanteneffizienz ≥ 75 % @ 1,35 µm.
Hohe Auflösung und hohe Bildraten
*Mit reduziertem ROI sind > 3000 fps möglich.
Tiefe TEC-Kühlung für ein besseres SNR
Viele Schnittstellen, einfache Integration
Direkte Anbindung an HALCON, VisionPro und andere Vision-Plattformen.
Hardwaremerkmale
Anwendungsszenarien
Halbleiter-Defektinspektion
Erkennt zuverlässig Defekte auf Wafern und Chips.
EL-Prüfung von Solarzellen
Elektrolumineszenz-basierte Fehleranalyse.
Landwirtschaftliches Remote Sensing
Überwachung des Pflanzenzustands.
Kunststoffsortierung
Identifikation und Sortierung nach Materialzusammensetzung.
Sicherheits- und Fälschungsschutz
Erkennung von Sicherheitsmerkmalen und UV-/IR-Tinten.
Medizinische Fluoreszenzbildgebung
Anwendungen in der biomedizinischen Forschung.
Mit der SWIR-Serie von ToupTek Photonics entfallen Kompromisse zwischen Auflösung und Bildrate sowie der Bedarf an kostspieligen Dual-Kamerasystemen. Ob Hochgeschwindigkeitsdynamik, extrem geringe Beleuchtungsstärken oder breitbandige Spektroskopie – die Serie liefert höhere Empfindlichkeit, mehr Schnittstellen und flexible Konfigurationen für Kurzwelliges Infrarot (SWIR) in Forschung und Industrie.