PLM100-Serie Polarisationsmikroskopsystem Polarisationsmikroskopie
Produktübersicht
Das Polarisationsmikroskop dient der Untersuchung transparenter oder opaker anisotroper Materialien. Birefringente Substanzen lassen sich damit klar unterscheiden – auch wenn Färbungen möglich sind, wird bei manchen Proben zwingend die Polarisation genutzt. Das reflektive Polarisationsmikroskop ist daher ein unverzichtbares Werkzeug zur Analyse birefringenter Stoffe.
Hauptmerkmale
- Objektive mit Standard- oder langem Arbeitsabstand (optional)
- Bildkanal: 1× (Tubusbrennweite 180 mm); kundenspezifische Reduzierer verfügbar
- Bildkanal – Bildfeldgröße: 25 mm
- Bildkanal – Spektralbereich: sichtbares Licht
- Kameraanschlüsse: C/M42/M52 u. a. wählbar
- Beleuchtung: Kritisch oder Köhler wählbar
- Beleuchtung: 10 W Weiß-/Blau-LED
Systemkonfiguration und Parameter
Professionelles Polarisationsmikroskopiesystem für präzise anisotrope Materialanalyse
Funktionsprinzip des Systems
Das PLM100-Polarisationsmikroskopsystem nutzt die Polarisation des Lichts: Polarisator und Analysator ermöglichen die Beobachtung und Analyse birefringenter Materialien.
Polarisator
Wandelt natürliches Licht in linear polarisiertes Licht um und erzeugt polarisierte Beleuchtung im Lichtweg
Probenwirkung
Birefringente Materialien teilen polarisiertes Licht in zwei orthogonale Strahlen mit unterschiedlicher Geschwindigkeit und erzeugen optische Weglängendifferenzen
Analysator
Der Analysator wird orthogonal (90°) zum Polarisator ausgerichtet, analysiert den Polarisationszustand nach dem Sample und erzeugt ein Interferenzbild
Bildgebungssystem
Vergrößert Interferenzbilder und leitet sie an Kamera oder Okular weiter – visualisiert anisotrope Eigenschaften und Spannungsverteilungen
Objektiv-Serienparameter
Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (45 mm parfokale Länge, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektfeld | Bildfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POL2.5XA | 2.5X | 0.075 | 6.2mm | 80mm | 4.46μm | 10mm | 25mm |
| POL5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 39mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POL10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| POL20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8μm | 1.1mm | 25mm |
| POL50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6μm | 0.44mm | 25mm |
Objektivserie mit langem Arbeitsabstand (Parfokale Länge 95 mm, Tubuslinse 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektfeld | Bildfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POLL2XA | 2X | 0.055 | 33.7mm | 100mm | 6.1μm | 12.5mm | 25mm |
| POLL5XA | 5X | 0.14 | 33.6mm | 40mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POLL10XA | 10X | 0.28 | 33.4mm | 20mm | 1.2μm | 2.5mm | 25mm |
| POLL20XA | 20X | 0.34 | 29.5mm | 10mm | 0.8μm | 1.25mm | 25mm |
| POLL50XA | 50X | 0.5 | 18.9mm | 4mm | 0.7μm | 0.5mm | 25mm |
Technische Systemspezifikationen
Optisches System
- Bildgebungsstrahlengang
- 1× (Tubuslinse 180 mm), kundenspezifische Reduzieroptiken mit unterschiedlichen Faktoren verfügbar
- Bildfeldgröße
- 25mm
- Spektralbereich
- Sichtbares Licht
- Tubuslinsenbrennweite
- 200mm
Beleuchtungssystem
- Beleuchtungsart
- Kritische oder Köhler-Beleuchtung wählbar
- Lichtquelle
- 10W LED
- Lichtquellenoptionen
- Weiß- oder Blau-LED verfügbar
Polarisationssystem
- Kameraschnittstelle
- C/M42/M52 u. a. verfügbar
- Objektivgewinde
- M26×0.705
- Polarisationskonfiguration
- Polarisator + Analysator (90° orthogonal)
Typische Anwendungsfälle
Professionelle Anwendungen des PLM100-Systems in verschiedenen Bereichen
Geologie, Petrologie, Mineralanalyse
In der Geologie spielt die PLM100-Serie eine Schlüsselrolle: Sie analysiert kristalline Strukturen und Zusammensetzungen von Erzen präzise und eignet sich besonders für Oxide, Sulfide, Silikate, Asbestfasern sowie Kohlenpetrographie.
- Exakte Bestimmung von Mineralarten und Kristallstrukturen
- Analyse der Erzbestandteile
- Quantifizierung von Asbestfasern
- Analyse von Kohlebestandteilen
- Bestimmung kristalloptischer Eigenschaften
Analyse von Spannungsdoppelbrechung
Das System detektiert Spannungsverteilungen in Glas, Kunststoff und Polymeren präzise. Der photoelastische Effekt visualisiert innere Spannungen als Interferenzmuster – essenziell für Qualitätskontrolle und Fehleranalyse.
- Zerstörungsfreie Spannungsanalyse
- Visualisierung von Spannungsverteilungen
- Identifikation von Spannungszonen
- Analyse von Einschlüssen in Glas
- Qualitätskontrolle von Kunststoffspritzteilen
Konkrete Anwendungsfälle
- Nachweis innerer Spannungen in Glas
- Spannungsanalyse an Kunststoffgehäusekanten
- Bewertung der Homogenität von Polymerfilmen
- Defekterkennung bei Verbundwerkstoffen
Weitere Anwendungsbereiche
Prüfung von Textilien und Fasern
In der Textilindustrie liefert die PLM100-Serie wertvolle Beiträge zur Qualitätskontrolle: Sie identifiziert Fasertypen, beurteilt Orientierungen und analysiert Gewebestrukturen – eine fundierte Basis für Zusammensetzungs- und Qualitätsbewertungen.
- Unterscheidung natürlicher und synthetischer Fasern
- Quantitative Analyse der Faserorientierung
- Charakterisierung der Gewebestruktur
Vergleich mit anderen Mikroskopietechniken
| Vergleichstechnik | PLM100-System-Vorteile |
|---|---|
| Hellfeld-Metallografiemikroskop | PLM100 erkennt Spannungsdoppelbrechung, die im Hellfeldmikroskop verborgen bleibt, und liefert Informationen über innere Spannungen. |
| Konventionelles optisches Mikroskop | PLM100 macht mittels polarisierten Lichts anisotrope Materialeigenschaften sichtbar und unterstützt kristallografische sowie Spannungsanalysen. |
| Fluoreszenzmikroskop | PLM100 benötigt keine Färbung und zeigt intrinsische optische Eigenschaften des Materials – einfache Handhabung ohne Veränderung der Probe. |
Systemkonfiguration und Zubehör
Standardkonfiguration
- PLM100-Hauptsystem
- Polarisator-Modul
- Analysator-Modul
- 10 W LED-Beleuchtungssystem
- Standard-C-Mount-Adapter
Optionales Zubehör
- Objektivserie mit Standardarbeitsabstand (2,5×–50×)
- Langarbeitsabstandsobjektive (2×–50×)
- Kameraadapter M42/M52
- Reduzieroptiksystem
- Modul für kritische bzw. Köhler-Beleuchtung
- Weiß-/Blau-LED-Beleuchtung
- Kompensator-Kit
- Rotierender Probentisch
Die PLM100-Serie verwendet modulares Design und kann flexibel entsprechend spezifischer Analyseanforderungen konfiguriert werden
PLM100-Systemvorteile
Professionelle Polarisationsmikroskopietechnik enthüllt anisotrope Materialeigenschaften
Kristallstrukturanalyse
Präzise Identifikation von Mineralkristallarten, Analyse kristalloptischer Eigenschaften, liefert zuverlässige Daten für geologische Forschung.
Spannungs-Doppelbrechungsdetektion
Zerstörungsfreie Detektion der internen Spannungsverteilung von Materialien, Visualisierung von Spannungen durch photoelastische Effekte.
Fasermaterial-Identifikation
Genaue Unterscheidung zwischen natürlichen und synthetischen Fasern, Bewertung der Faserorientierung, Unterstützung der Textilqualitätskontrolle.
Hohes Extinktionsverhältnis-Design
Professionelle Polarisationsobjektive eliminieren innere Spannungsinterferenzen, gewährleisten Polarisationsbildqualität und Messgenauigkeit.
Keine Probenbehandlung erforderlich
Direkte Beobachtung der intrinsischen optischen Eigenschaften von Materialien ohne Färbung oder spezielle Präparation, Erhaltung des ursprünglichen Probenzustands.
Quantitative Analysefähigkeit
In Kombination mit Kompensatoren können Gangunterschiedsmessungen durchgeführt werden, um quantitative Analysen von Materialdicke und Doppelbrechung zu realisieren.