PLM100-Serie Polarisationsmikroskopsystem Polarisationsmikroskopie
Produktübersicht
Das Polarisationsmikroskop (Polarizing Light Microscope) dient zur Untersuchung transparenter und opaker anisotroper Materialien. Stoffe mit Doppelbrechung lassen sich im Polarisationsmikroskop klar unterscheiden; einige können zwar durch Färbung beobachtet werden, viele jedoch nicht, sodass das Polarisationsmikroskop erforderlich ist. Das reflektierende Polarisationsmikroskop nutzt die Polarisationseigenschaften des Lichts und ist ein unverzichtbares Instrument zur Untersuchung und Identifikation doppelbrechender Materialien.
Hauptmerkmale
- Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie / Langarbeitsabstand-Objektivserie (optional)
- Abbildungsoptik: 1× (Tubuslinsenbrennweite 180 mm), kundenspezifische Reduktionslinsen mit unterschiedlichen Vergrößerungen möglich
- Bildfeld der Abbildungsoptik: 25 mm
- Spektralbereich der Abbildungsoptik: sichtbares Licht
- Kameraschnittstelle: C/M42/M52 optional
- Beleuchtungsart: kritische Beleuchtung / Köhler-Beleuchtung optional
- Beleuchtung: 10 W Weißlicht-/Blaulicht-LED optional
Systemkonfiguration und Parameter
Professionelles Polarisationsmikroskopiesystem für präzise anisotrope Materialanalyse
Systemprinzip
Die PLM100-Serie nutzt die Polarisationseigenschaften des Lichts. Durch das Zusammenspiel von Polarisator und Analysator werden doppelbrechende Materialien beobachtet und analysiert.
Polarisator
Wandelt natürliches Licht in linear polarisiertes Licht um, befindet sich im Beleuchtungsstrahlengang und liefert polarisiertes Licht für die Probe.
Wirkung der Probe
Doppelbrechende Materialien zerlegen das polarisierte Licht in zwei senkrecht zueinander schwingende Strahlen mit unterschiedlicher Ausbreitungsgeschwindigkeit und erzeugen einen Gangunterschied.
Analysator
Um 90° zum Polarisator ausgerichtet, analysiert den Polarisationszustand nach der Probe und erzeugt Interferenzbilder.
Abbildungssystem
Vergrößert und überträgt das Interferenzbild an Kamera oder Okular und zeigt die Anisotropie- und Spannungsverteilung des Materials.
Objektiv-Serienparameter
Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie (45 mm Parfokaldistanz, Tubuslinsenbrennweite 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektfeld | Bildfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POL2.5XA | 2.5X | 0.075 | 6.2mm | 80mm | 4.46μm | 10mm | 25mm |
| POL5XA | 5X | 0.15 | 23.5mm | 39mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POL10XA | 10X | 0.3 | 22.8mm | 20mm | 1.1μm | 2.5mm | 25mm |
| POL20XA | 20X | 0.4 | 19.2mm | 10mm | 0.8μm | 1.1mm | 25mm |
| POL50XA | 50X | 0.55 | 11mm | 4mm | 0.6μm | 0.44mm | 25mm |
Langarbeitsabstand-Objektivserie (60 mm Parfokaldistanz, Tubuslinsenbrennweite 200 mm)
| Modell | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | Arbeitsabstand | Brennweite | Auflösung | Objektfeld | Bildfeld |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| POLL2XA | 2X | 0.055 | 33.7mm | 100mm | 6.1μm | 12.5mm | 25mm |
| POLL5XA | 5X | 0.14 | 33.6mm | 40mm | 2.2μm | 5mm | 25mm |
| POLL10XA | 10X | 0.28 | 33.4mm | 20mm | 1.2μm | 2.5mm | 25mm |
| POLL20XA | 20X | 0.34 | 29.5mm | 10mm | 0.8μm | 1.25mm | 25mm |
| POLL50XA | 50X | 0.5 | 18.9mm | 4mm | 0.7μm | 0.5mm | 25mm |
Technische Systemspezifikationen
Optisches System
- Bildgebungsstrahlengang
- 1× (Tubuslinsenbrennweite 180 mm), kundenspezifische Reduktionslinsen mit unterschiedlichen Vergrößerungen möglich
- Bildfeldgröße
- 25 mm
- Spektralbereich
- Sichtbares Licht
- Tubuslinsenbrennweite
- 180mm
Beleuchtungssystem
- Beleuchtungsart
- kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
- Lichtquelle
- 10 W LED
- Lichtquellenoptionen
- Weißlicht-LED/Blaulicht-LED optional
Polarisationssystem
- Kameraschnittstelle
- C/M42/M52 optional
- Objektivgewinde
- M26×0.705
- Polarisationskonfiguration
- Polarisator + Analysator (90° orthogonal)
Typische Anwendungsfälle
Professionelle Anwendungen des PLM100-Systems in verschiedenen Bereichen
Geologie, Petrologie und Mineralanalyse
Die PLM100-Serie spielt eine zentrale Rolle in der geologischen Forschung und ermöglicht eine präzise Analyse der Kristallstruktur und Zusammensetzung von Erzen. Besonders geeignet für die Analyse von Metallmineralen (Oxide, Sulfide, Silikate) sowie für Asbestfaser- und Kohlegesteinsanalysen.
- Präzise Identifikation von Mineralarten und Kristallstrukturen
- Analyse der Erzkomponenten
- Quantitative Asbestfaser-Detektion
- Analyse von Kohlebestandteilen
- Bestimmung kristalloptischer Eigenschaften
Spannungsdoppelbrechungsprüfung von Materialien
Das System erkennt Spannungsverteilungen in Glas-, Kunststoff- und Polymermaterialien präzise. Über den photoelastischen Effekt werden innere Spannungen als Interferenzfarbmuster visualisiert und liefern entscheidende Daten für Qualitätskontrolle und Fehleranalyse.
- Zerstörungsfreie Spannungsprüfung
- Visualisierte Spannungsverteilung
- Identifikation von Spannungskonzentrationen
- Bewertung von Glaseinschlüssen
- Qualitätskontrolle von Kunststoff-Spritzgussteilen
Konkrete Anwendungsfälle
- Innenstressprüfung von Glasprodukten
- Spannungsanalyse an Kunststoffgehäusekanten
- Bewertung der Polymerfilm-Gleichmäßigkeit
- Erkennung von Verbundwerkstoff-Defekten
Weitere Anwendungsbereiche
Textil- und Faserprüfung
Die PLM100-Serie ist in der Textilindustrie für die Qualitätskontrolle wichtig und ermöglicht die Identifikation von Fasertypen, die Bewertung der Faserorientierung und die Analyse der Gewebestruktur. Sie liefert eine wissenschaftliche Grundlage für Inhalts- und Qualitätsbewertungen.
- Unterscheidung zwischen Natur- und Kunstfasern
- Quantitative Analyse der Faserorientierung
- Charakterisierung der Gewebestruktur
Vergleich mit anderen Mikroskopietechniken
| Vergleichstechnik | PLM100-System-Vorteile |
|---|---|
| Hellfeld-Metallurgiemikroskop | PLM100 ermöglicht die Beobachtung von Spannungsdoppelbrechung, die im Hellfeldmikroskop nicht erkennbar ist, und liefert Informationen zur inneren Materialspannung. |
| Konventionelles optisches Mikroskop | PLM100 zeigt anisotrope Merkmale des Materials mittels polarisiertem Licht und ermöglicht kristallographische sowie Spannungsanalysen. |
| Fluoreszenzmikroskop | PLM100 benötigt keine Färbung und beobachtet die intrinsischen optischen Eigenschaften direkt; einfache Bedienung ohne Veränderung der Probe. |
Systemkonfiguration und Zubehör
Standardkonfiguration
- PLM100 Hauptsystem
- Polarisator-Modul
- Analysator-Modul
- 10 W LED-Beleuchtungssystem
- Standard-C-Mount-Adapter
Optionales Zubehör
- Standard-Arbeitsabstand-Objektivserie (2,5×–50×)
- Langarbeitsabstand-Objektivserie (2×–50×)
- M42/M52-Kameraadapter
- Reduktionslinsensystem
- Module für kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung
- Weißlicht-/Blaulicht-LED-Lichtquelle
- Kompensator-Kit
- Drehbarer Objekttisch
Die PLM100-Serie verwendet modulares Design und kann flexibel entsprechend spezifischer Analyseanforderungen konfiguriert werden
PLM100-Systemvorteile
Professionelle Polarisationsmikroskopietechnik enthüllt anisotrope Materialeigenschaften
Kristallstrukturanalyse
Präzise Identifikation von Mineralkristallarten, Analyse kristalloptischer Eigenschaften, liefert zuverlässige Daten für geologische Forschung.
Spannungs-Doppelbrechungsdetektion
Zerstörungsfreie Detektion der internen Spannungsverteilung von Materialien, Visualisierung von Spannungen durch photoelastische Effekte.
Fasermaterial-Identifikation
Genaue Unterscheidung zwischen natürlichen und synthetischen Fasern, Bewertung der Faserorientierung, Unterstützung der Textilqualitätskontrolle.
Hohes Extinktionsverhältnis-Design
Professionelle Polarisationsobjektive eliminieren innere Spannungsinterferenzen, gewährleisten Polarisationsbildqualität und Messgenauigkeit.
Keine Probenbehandlung erforderlich
Direkte Beobachtung der intrinsischen optischen Eigenschaften von Materialien ohne Färbung oder spezielle Präparation, Erhaltung des ursprünglichen Probenzustands.
Quantitative Analysefähigkeit
In Kombination mit Kompensatoren können Gangunterschiedsmessungen durchgeführt werden, um quantitative Analysen von Materialdicke und Doppelbrechung zu realisieren.