DIC100-Serie - Differenzial-Interferenzkontrast-Mikroskopiersystem

Das DIC-Mikroskopiersystem (Differential Interference Contrast) nutzt das Prinzip der Doppelstrahl-Polarisationsinterferenz, dessen Prozess wie folgt abläuft:
1. Das vom Polarisator ausgehende linear polarisierte Licht wird nach Durchgang durch ein doppelbrechendes Nomarski-Prisma in zwei senkrecht zueinander schwingende Strahlen mit bestimmter Phasendifferenz aufgeteilt;
2. Die beiden inkohärenten Lichtstrahlen beleuchten die Probe, wobei kleine Oberflächenunebenheiten oder unterschiedliche Brechungsindizes im Sichtfeld einen optischen Wegunterschied zwischen den beiden Strahlen erzeugen. Nach Reflexion an der Probe werden die beiden Strahlen erneut durch das Nomarski-Prisma vereinigt;
3. Das vereinigte Licht durchläuft den Analysator, wodurch die Schwingungsrichtungen angeglichen werden und Interferenz auftritt;
4. Probendetails werden durch Strahlinterferenz und Amplitudenänderungen im Hell-Dunkel-Kontrast verstärkt, während die Probendetails einen dreidimensionalen reliefartigen Effekt zeigen.
Das Nomarski-Prisma kann horizontal verschoben werden, ähnlich der Funktion eines Phasenkompensators, wodurch Helligkeit und Interferenzfarben zwischen Objekt und Hintergrund im Sichtfeld verändert werden, um optimale Beobachtungsergebnisse zu erzielen. Abbildung 1 zeigt das DIC100-Serie Differenzial-Interferenzkontrast-Mikroskopiersystem.