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Spezielle Mikroskopiersysteme Professionelle Mikroskopie-Bildgebungssysteme

Produktübersicht

Für spezielle Anwendungsanforderungen entwickelte professionelle Mikroskopiersysteme, einschließlich Kurzwelliges Infrarot (SWIR), Differenzial-Interferenzkontrast, Hellfeld-Metallographie, Fluoreszenz, Polarisation und weitere Mikroskopietechniken.

Hauptmerkmale

  • Professionelles Design, optimiert für spezifische Anwendungen
  • Hochwertige optische Komponenten
  • Modulare Konfiguration, einfach erweiterbar
  • Geeignet für Forschung und industrielle Prüfung
  • Komplette Systemlösungen
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Finden Sie basierend auf Ihren Anwendungsanforderungen schnell das passende Mikroskopiersystem

Spezielle Mikroskopiersysteme

Für spezielle Anwendungsanforderungen entwickelte professionelle Mikroskopiersysteme, einschließlich Kurzwelliges Infrarot (SWIR), Differenzial-Interferenzkontrast, Hellfeld-Metallographie, Fluoreszenz, Polarisation und weitere Mikroskopietechniken.

BSM - Kurzwelliges Infrarot-Mikroskopiersystem

Das modulare Kurzwellige Infrarot (SWIR) Mikroskopiersystem der BSM-Serie ist eine Technologieplattform der neuesten Generation für SWIR-Mikroskopie, ...

Hauptmerkmale
  • Vollständige Abdeckung des SWIR-Bildgebungsbands von 900–1700 nm
  • Durchdringungsbildgebungstechnologie für siliziumbasierte Materialien, ermöglicht zerstörungsfreie interne Prüfung
  • Drei wählbare Tubuslinsensysteme (BSM-T180VA/T090VA/T100VA)
  • Maximale Bildebene von 33 mm, kompatibel mit großen Sensoren
  • Professionelle M Plan Apo NIR-Objektivserie (5X–50X HR)
  • 0,4 µm ultrahochauflösende optische Auflösung (50X HR-Objektiv)
  • Koaxiales Auflicht-Köhler-Beleuchtungssystem
  • Integrierte LED-Lichtquellen mit mehreren Wellenlängen: 1200/1300/1400/1550 nm
  • Kompatibel mit hochleistungsfähigen InGaAs-Sensorkameras (0,33M–5,0M)
  • Echtzeit-Bildgebungsfähigkeit, Bildraten bis zu 400 fps bei 640×512
  • TEC-Kühltechnologie für rauscharme Bildgebung mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis
  • Standard-C-Mount-Design, kompatibel mit verschiedenen Kamerasystemen
  • Modulare Architektur, unterstützt flexible Anpassung und Upgrades
  • Präzise CNC-Bearbeitung und Vibrationsdämpfungsdesign
  • Standard-Glasoptiksystem, kostenoptimiert
Anwendungsbereiche
Halbleiterprüfung Materialanalyse Biomedizinische Forschung
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DIC100 - Differenzial-Interferenzkontrast-Mikroskopiersystem

Das DIC-Mikroskopiersystem (Differential Interference Contrast) nutzt das Prinzip der Doppelstrahl-Polarisationsinterferenz, dessen Prozess wie folgt ...

Standard-Arbeitsabstand-Objektivparameter (45 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
DIC2.5XA 2,5X 0.075 6,2 mm 80 mm 4,46 µm 10 mm 25 mm M26×0,705
DIC5XA 5X 0.15 23,5 mm 39 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
DIC10XA 10X 0.3 22,8 mm 20 mm 1,1 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
DIC20XA 20X 0.4 19,2 mm 10 mm 0,8 µm 1,1 mm 25 mm M26×0,705
DIC50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0,6 µm 0,44 mm 25 mm M26×0,705
Objektive mit langem Arbeitsabstand-Parameter (60 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
DICL2XA 2X 0.055 33,7 mm 100 mm 6,1 µm 12,5 mm 25 mm M26×0,705
DICL5XA 5X 0.14 33,6 mm 40 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
DICL10XA 10X 0.28 33,4 mm 20 mm 1,2 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
DICL20XA 20X 0.34 29,5 mm 10 mm 0,8 µm 1,25 mm 25 mm M26×0,705
DICL50XA 50X 0.5 18,9 mm 4 mm 0,7 µm 0,5 mm 25 mm M26×0,705
Hauptmerkmale
  • Standard-Arbeitsabstand-Serie/Langer Arbeitsabstand-Serie Objektive (optional)
  • Bildgebungsstrahlengang: 1X (Tubuslinsenlänge 180 mm), verschiedene Verkleinerungsoptiken anpassbar
  • Bildebene des Bildgebungsstrahlengangs: 25 mm
  • Spektralbereich des Bildgebungsstrahlengangs: sichtbares Licht
  • Kameraanschluss: C/M42/M52 etc. optional
  • Beleuchtungsart: Kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
  • Beleuchtungsquelle: 10 W Weißlicht/Blaulicht-LED-Beleuchtung optional
Anwendungsbereiche
Zellbiologie Materialwissenschaft Qualitätskontrolle Partikeldetektion
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BMM100 - Hellfeld-Metallographie-Mikroskopiersystem

Das Hellfeld-Metallographie-Mikroskop (Brightfield Metallographic Microscope) besteht hauptsächlich aus drei Hauptsystemen: Beleuchtungssystem, Bildge...

Standard-Arbeitsabstand-Objektivparameter (45 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
BF5XA 5X 0.15 22 mm 36 mm 2,23 µm 5 mm 25 mm M20×0,705
BF10XA 10X 0.3 15 mm 18 mm 1,1 µm 2,5 mm 25 mm M20×0,705
BF20XA 20X 0.4 10 mm 9 mm 0,75 µm 1,25 mm 25 mm M20×0,705
BF50XA 50X 0.8 2,5 mm 3,6 mm 0,41 µm 0,5 mm 25 mm M20×0,705
Objektive mit langem Arbeitsabstand-Parameter (60 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
BFL2.5XA 2,5X 0.075 6,2 mm 80 mm 4,46 µm 10 mm 25 mm M26×0,705
BFL5XA 5X 0.15 23,5 mm 40 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
BFL10XA 10X 0.3 22,8 mm 20 mm 1,1 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
BFL20XA 20X 0.4 19,2 mm 10 mm 0,8 µm 1,1 mm 25 mm M26×0,705
BFL50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0,6 µm 0,44 mm 25 mm M26×0,705
Hauptmerkmale
  • Standard-Arbeitsabstand-Serie/Langer Arbeitsabstand-Serie Objektive (optional)
  • Bildgebungsstrahlengang: 1X (Tubuslinsenlänge 180 mm), verschiedene Verkleinerungsoptiken anpassbar
  • Bildebene des Bildgebungsstrahlengangs: 25 mm
  • Spektralbereich des Bildgebungsstrahlengangs: sichtbares Licht
  • Kameraanschluss: C/M42/M52 etc. optional
  • Beleuchtungsart: Kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
  • Beleuchtungsquelle: 10 W Weißlicht/Blaulicht-LED-Beleuchtung optional
Anwendungsbereiche
Metallwerkstoffprüfung Metallurgische Analyse Industrielle Qualitätskontrolle Nichtmetallische Werkstoffprüfung
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PLM100 - Professionelle Polarisationslicht-Mikroskopielösung

Das Polarisationsmikroskop (Polarizing Light Microscope) ist ein Mikroskop zur Untersuchung von sogenannten transparenten und undurchsichtigen anisotr...

Standard-Arbeitsabstand-Objektivparameter (45 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
POL2.5XA 2,5X 0.075 6,2 mm 80 mm 4,46 µm 10 mm 25 mm M26×0,705
POL5XA 5X 0.15 23,5 mm 39 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
POL10XA 10X 0.3 22,8 mm 20 mm 1,1 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
POL20XA 20X 0.4 19,2 mm 10 mm 0,8 µm 1,1 mm 25 mm M26×0,705
POL50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0,6 µm 0,44 mm 25 mm M26×0,705
Objektive mit langem Arbeitsabstand-Parameter (60 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
POLL2XA 2X 0.055 33,7 mm 100 mm 6,1 µm 12,5 mm 25 mm M26×0,705
POLL5XA 5X 0.14 33,6 mm 40 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
POLL10XA 10X 0.28 33,4 mm 20 mm 1,2 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
POLL20XA 20X 0.34 29,5 mm 10 mm 0,8 µm 1,25 mm 25 mm M26×0,705
POLL50XA 50X 0.5 18,9 mm 4 mm 0,7 µm 0,5 mm 25 mm M26×0,705
Hauptmerkmale
  • Standard-Arbeitsabstand-Serie/Langer Arbeitsabstand-Serie Objektive (optional)
  • Bildgebungsstrahlengang: 1X (Tubuslinsenlänge 180 mm), verschiedene Verkleinerungsoptiken anpassbar
  • Bildebene des Bildgebungsstrahlengangs: 25 mm
  • Spektralbereich des Bildgebungsstrahlengangs: sichtbares Licht
  • Kameraanschluss: C/M42/M52 etc. optional
  • Beleuchtungsart: Kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
  • Beleuchtungsquelle: 10 W Weißlicht/Blaulicht-LED-Beleuchtung optional
Anwendungsbereiche
Geologische Forschung Materialwissenschaft Kristallographische Analyse Spannungsdoppelbrechungsdetektion
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FM100 - Fluoreszenz-Mikroskopiersystem

Das Fluoreszenzmikroskop (Fluorescence Microscope) ist ein Mikroskop zur Beobachtung von fluoreszierenden oder phosphoreszierenden Substanzen. Das Pri...

Standard-Arbeitsabstand-Objektivparameter (45 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
Flour2.5XA 2,5X 0.075 6,2 mm 80 mm 4,46 µm 10 mm 25 mm M26×0,705
Flour5XA 5X 0.15 23,5 mm 39 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
Flour10XA 10X 0.3 22,8 mm 20 mm 1,1 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
Flour20XA 20X 0.4 19,2 mm 10 mm 0,8 µm 1,1 mm 25 mm M26×0,705
Flour50XA 50X 0.55 11 mm 4 mm 0,6 µm 0,44 mm 25 mm M26×0,705
Objektive mit langem Arbeitsabstand-Parameter (60 mm parfokale Länge)
Objektivname Vergrößerung Numerische Apertur Arbeitsabstand Brennweite Auflösung Objektsichtfeld Bildsichtfeld Gewindegröße
FlourL2XA 2X 0.055 33,7 mm 100 mm 6,1 µm 12,5 mm 25 mm M26×0,705
FlourL5XA 5X 0.14 33,6 mm 40 mm 2,2 µm 5 mm 25 mm M26×0,705
FlourL10XA 10X 0.28 33,4 mm 20 mm 1,2 µm 2,5 mm 25 mm M26×0,705
FlourL20XA 20X 0.34 29,5 mm 10 mm 0,8 µm 1,25 mm 25 mm M26×0,705
FlourL50XA 50X 0.5 18,9 mm 4 mm 0,7 µm 0,5 mm 25 mm M26×0,705
Hauptmerkmale
  • Standard-Arbeitsabstand-Serie/Langer Arbeitsabstand-Serie Objektive (optional)
  • Bildgebungsstrahlengang: 1X (Tubuslinsenlänge 180 mm), verschiedene Verkleinerungsoptiken anpassbar
  • Bildebene des Bildgebungsstrahlengangs: 25 mm
  • Spektralbereich des Bildgebungsstrahlengangs: sichtbares Licht
  • Kameraanschluss: C/M42/M52 etc. optional
  • Beleuchtungsart: Kritische Beleuchtung/Köhler-Beleuchtung optional
  • Beleuchtungsquelle: Leistung 3 W, Wellenlänge 365 nm LED-Lichtquelle
  • Fluoreszenzmodul: DAPI-Einzelband-UV-Filter (Anregungsfilter 365 nm, Emissionsfilter 445 nm, dichroitischer Spiegel 405 nm), anpassbar
Anwendungsbereiche
Biomedizinische Forschung Fluoreszenzmarkierungsdetektion Zellbildgebung Bleichmitteldetektion in der Papierindustrie
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Merkmale der Spezial-Mikroskopiersysteme

  • Professionelles Design, optimiert für spezifische Anwendungen
  • Hochwertige optische Komponenten
  • Modulare Konfiguration, einfach erweiterbar
  • Geeignet für Forschung und industrielle Prüfung
  • Komplette Systemlösungen
Auswahlhilfe
Mikroskopietechnologie
Wählen Sie basierend auf Probeneigenschaften die geeignete Mikroskopiemethode
Objektivkonfiguration
Standard- oder Objektive mit langem Arbeitsabstand für verschiedene Anforderungen
Beleuchtungssystem
Köhler- oder kritische Beleuchtung wählbar
Kameraanschluss
Unterstützt C/M42/M52 und weitere Anschlüsse

Die Spezial-Mikroskopiersysteme von Topograph Photoelectric verwenden ein modulares Design und bieten spezialisierte Lösungen für verschiedene Anwendungsszenarien, um die hohen Anforderungen von Forschung und industrieller Prüfung zu erfüllen.

Systemkonfigurationslösungen

Flexible Kombination von Hardware- und Software-Modulen je nach Anwendungsanforderungen

Dimension Schlüsselkonfiguration Technische Highlights Nutzervorteile
Bildgebungshardware • ToupCam X-Serie: IMX415/IMX571 etc. BSI-CMOS, bis zu 45 MP, USB 3.0/HDMI 60 fps 4K
• HCAM/PUM Portable Module: UVC Plug-and-Play, integrierte 8 LED-Ringbeleuchtung 		• Niedriges Ausleserauschen & 66 dB+ Dynamikbereich
• Zeilenscan + optionaler Global Shutter 		Realistische Farbwiedergabe, hoher Kontrast; erfüllt Anforderungen von Hochgeschwindigkeits-AOI, Fluoreszenzschwachsignalen und weiteren Szenarien
Zoom-Optik • MZO-Serie (0,25×–8×): 20× Zoomverhältnis, NA 0,12, 174 mm langer Arbeitsabstand
• ZOPE All-in-One: Integrierte 8 LED & USB-Kamera, parfokaler linearer Zoom 		Beidseitige parallele Strahlengänge, beugungsbegrenzte MTF, niedrige Verzerrung Zoomen ohne Nachfokussierung, Proben vom Millimeter- bis zum Mikrometerbereich
Beleuchtungssystem • TZM0756DRL 65/85 mm LED-Ringbeleuchtung: PWM-Helligkeit kontinuierlich einstellbar
• TZM0756CL Koaxialbeleuchtung + Punktlichtquelle
• AALRL-200 Große Ringbeleuchtung: 300 mm gleichmäßiges Sichtfeld 		Mehrkanal/Polarisation/Koaxial-Komposit-Licht; LED-Winkel 30° einstellbar Löst Probleme wie PCB-Lötstellen-Blendung, Wafer-Kratzer, transparente Dünnfilminspektion
Mechanische Plattform • TPS-600 Grob-Feinverstellstativ (5 kg Tragkraft)
• TPS-300 Präzisionsfeinverstellung 2 µm Schritt
• Motorisierte Z & XY-Plattform (optional) 		Eloxiertes Klasse II Luftfahrt-Aluminium, Kugelumlaufspindel Langzeitstabile 24×7-Positionierung, unterstützt Autofokus und Array-Scanning
Software & Algorithmen • ToupView: Echtzeitmessung/Annotation, Tiefenschärfe-Synthese, HDR, Polarisationsdemodulation
• SDK/API: Windows/macOS/Linux/Android
• KI-Modul: Defektklassifikation, Maßtoleranz-Beurteilung 		Sekundärentwicklung + PLC/Roboter-Serielle-Protokolle Schnelle Integration in MES/SPC-Qualitätssysteme, unterstützt Edge Computing und Cloud-Synchronisation

Systemvorteile

Fünf Kernvorteile für den Aufbau einer professionellen Mikroskopie-Bildgebungsplattform

Komplettes Ökosystem, schlüsselfertige Lieferung

Kamera, Objektiv, Beleuchtung, Stativ, Software – alles aus einer Hand. Keine Mehrfachbeschaffung nötig, Plug-and-Play spart 60 % Integrationsaufwand.

Hohe Auflösung + große Schärfentiefe vereint

45 MP Ultra-HD-CMOS + Tiefenschärfe-Synthese-Algorithmus ermöglicht mikrometergenau scharfe Bilder über 30 mm Sichtfeld.

Multispektral & Schwachlichtbildgebung

Unterstützt Weißlicht/Nah-Infrarot/Polarisations-Kombination mit synchroner Koaxial- + Ringbeleuchtung; zeigt bei 0,05 lux noch Texturdetails.

Flexible Erweiterung, Investitionsschutz

Standard C-Mount und GigE Vision/USB3 Vision-Protokoll, spätere Upgrades für KI-Module, automatischen Objekttisch und Mehrkamera-Synchronisation ohne Hauptkörper-Austausch möglich.

Branchenübergreifende Implementierungsfälle

  • Halbleiter: Bumping, Kratzer, Bonddraht-Defekt-AOI
  • FPC/PCB: Lotpastenhöhe, Pad-Rückstandserkennung
  • Neue Energie: Li-Ionen-Separator-Porengröße, Elektrodenbeschichtungs-Gleichmäßigkeit
  • Lebenswissenschaften: Gewebeschnitte, Entomologie, Pflanzen-Lebendbeobachtung
  • Bildung und Training: Virtuelle Experimente in Hochschul-Materialkursen, STEAM-Maker-Kurse

Anwendungsfälle

Erfolgreiche Implementierungserfahrungen in mehreren Branchen

Halbleiterprüfung

Automatische optische Inspektion von Bumping, Kratzern und Bonddraht-Defekten

Halbleiterfertigung
PCB-Prüfung

Hochpräzise Erkennung von Lotpastenhöhe und Pad-Rückständen

FPC/PCB-Qualitätsprüfung
Neue Energie-Prüfung

Analyse von Li-Ionen-Separator-Porengröße und Elektrodenbeschichtungs-Gleichmäßigkeit

Neue Energie-Materialien
Lebenswissenschaften

Gewebeschnitte, dynamische Beobachtung lebender Zellen

Lebenswissenschaftliche Forschung