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400–2500 nm | In China hergestelltes SWIR InGaAs | USB3/CameraLink | Gekühlt | Kurzwelliges Infrarot (SWIR)-Kamera Kurzwellige Infrarotstrahlung (SWIR) Kameras

Produktübersicht

Die SWIR 400–2500 nm Kameraserie zielt auf High-End-Anwendungen mit ultrabreitem Band ab und verwendet fortschrittliche InGaAs-Sensoren mit Tiefkühlungsstruktur. Sie deckt das 400–2500 nm Band ab und eignet sich für Lasermessung, Solarzellen-Inspektion, Materialsortierung, spektrale Bildgebung und wissenschaftliche Forschung. Die USB3.0-Hochgeschwindigkeits-Datenschnittstelle ermöglicht schnelle Integration und Datenverarbeitung. Diese Serie unterstützt Hochgeschwindigkeitserfassung, Global Shutter, breiten Dynamikbereich und Multiplattform-SDK-Entwicklung mit ausgezeichneter Bildgebungskonsistenz und langfristiger Betriebsstabilität. Sie ist die ideale Wahl für Forschungsinstitute und industrielle Automatisierungssysteme.

Hauptmerkmale

  • 400–2500 nm Breitspektrum-InGaAs-Chip
  • Hohe Empfindlichkeit und Tiefkühlung
  • Global Shutter
  • Hochgeschwindigkeitserfassung
  • USB3.0-Hochgeschwindigkeits-Datenschnittstelle
  • 4 Gb Speicher
  • Multiplattform-SDK-Entwicklungsunterstützung
  • Umfangreiche IO- und externe Trigger
  • Unterstützt Firmware-Updates vor Ort und OEM-Anpassungen
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Produktmodelle

Wählbar 400–1700/1000–1900/1200–2200 | USB 3.0 Gekühlt 400–2500 nm Kamera

Produktmodell Sensor Auflösung Pixelgröße Spektralbereich Bildrate Datenschnittstelle Dynamikbereich Aktionen
SWIR339KMB-E0417-CL700
In China hergestellter 640×512 (InGaAs) 9,60 mm × 7,68 mm
0,33 MP (640×512) 15 µm × 15 µm
400–1700 nm
724 fps @ 640×512
CameraLink
-
Details anzeigen
SWIR339KMB-E0417-U700
In China hergestellter 640×512 (InGaAs) 9,60 mm × 7,68 mm
0,33 MP (640×512) 15 µm × 15 µm
400–1700 nm
724 fps @ 640×512
USB3
-
Details anzeigen
SWIR333KMB-E1019-U240
In China hergestellter 640×512 (InGaAs) 9,60 mm × 7,68 mm
0,33 MP (640×512) 15 µm × 15 µm
1000–1900 nm
240 fps @ 640×512
USB3
-
Details anzeigen
SWIR333KMB-E1222-U270
In China hergestellter 640×512 (InGaAs) 9,60 mm × 7,68 mm
0,33 MP (640×512) 15 µm × 15 µm
1200–2200 nm
270 fps @ 640×512
USB3
-
Details anzeigen

Häufig gestellte Fragen

Erfahren Sie mehr über „Kurzwellige Infrarotstrahlung (SWIR)"-Kameratechnologie

Elektromagnetisches Spektrum-Diagramm: UV 200–380 nm, Sichtbares Licht 380–750 nm, Nahinfrarot 750–1100 nm, Kurzwellige Infrarotstrahlung 1100–2500 nm, Langwellige Infrarotstrahlung 8000–14000 nm
Eine SWIR-Kamera ist ein professionelles Bildgebungsgerät, das im kurzwelligen Infrarotspektrum (etwa 400–1.700 Nanometer) arbeitet. Sie kann Bildgebungseffekte erzielen, die über das sichtbare Licht hinausgehen, sich aber von Wärmebildkameras (LWIR) unterscheiden, wodurch sie in Szenarien mit hohen Anforderungen an Materialien, Strukturen und Details breit anwendbar ist.

SWIR-Kameras haben breite Anwendungen einschließlich Industrieinspektion, Machine Vision, Materialsortierung, Lebensmitteltests, wissenschaftliche Forschung, medizinische Diagnostik, Sicherheitsüberwachung, Prozesskontrolle und Transport. Sie sind besonders hervorragend in Materialanalyse, Feuchtigkeitserkennung, Durchdringung von Nebel/Rauch/Staub und Nachtüberwachung.

Ja! SWIR-Kameras können durch bestimmte Materialien sehen, die für sichtbares Licht undurchsichtig sind, wie bestimmte Kunststoffe und Siliziumwafer. Diese Fähigkeit ist extrem wertvoll für Halbleiterinspektion, Materialprüfung und andere Industrien.

SWIR-Kameras erfassen hauptsächlich reflektiertes oder emittiertes Licht im kurzwelligen Infrarotbereich, anders als Wärmebildkameras (LWIR), die auf Wärmestrahlung von Objekten angewiesen sind. SWIR-Kameras haben geringere Wärmeempfindlichkeit als Wärmebildkameras und sind besser für Strukturanalyse und Materialidentifikation geeignet als für direkte Temperaturerkennung.

Theoretisch ja. SWIR-Kameras können Objekte oder Komponenten identifizieren, die in sichtbarem Licht nicht unterschieden werden können, durch Unterschiede in Reflexion und Transmission von Materialien unter kurzwelligem Infrarotlicht. Sie werden breit in Sicherheitskontrolle, industrieller Sortierung und Inspektionsanwendungen verwendet.

Tiefes Verständnis von SWIR-Kameras

„Kurzwellige Infrarotstrahlung (SWIR)"-Kameras und ihre Kernsensoren sind wichtige Komponenten fortschrittlicher Bildgebungssysteme. SWIR-Technologie deckt den 900–1.700 Nanometer Wellenlängenbereich ab und hat ausgezeichnete Durchdringungsfähigkeiten in harschen Umgebungen, wie das Durchdringen von Nebel, Rauch und Staub, um klare Bildgebung unter extremen Bedingungen zu erreichen.

SWIR-Kameras basieren hauptsächlich auf kurzwelliger Infrarotlicht-Reflexion, ähnlich dem sichtbaren Lichtbereich, ergänzen den Anwendungsbereich, den Wärmebildkameras (LWIR) nicht abdecken können, und bieten vollständigere Bildgebungslösungen. Sie sind kompakt und flexibel integriert, wodurch sie einfach in verschiedene industrielle und kommerzielle Systeme angewendet werden können.

Die hohe Auflösung und hohe Empfindlichkeit von SWIR-Kameras können Präzisionserkennung und hochanspruchsvolle Anwendungen erfüllen, fähig, winzige Änderungen und Anomalien in Proben zu erkennen, wodurch sie sehr geeignet für Qualitätskontrolle und Defekterkennung sind. Einige Modelle unterstützen Kühlung, gewährleisten weitere Bildqualität in Hochtemperatur- oder Hochrausch-Umgebungen.

Um Systemkosten zu reduzieren und Integrationseffizienz zu verbessern, übernehmen moderne SWIR-Kameras üblicherweise Standard-optische Schnittstellen und kompakte Designs, um breiteren Anwendungsanforderungen zu entsprechen. Mit der kontinuierlichen Entwicklung von Bildgebungsmärkten und -technologie sind SWIR-Kameras aufgrund ihrer einzigartigen Vorteile zu einer der Schlüsseltechnologien für hochwertige Bildgebung und Sensorik in mehreren Industrien geworden.

Anwendungsbeispiele

Demonstration von SWIR-Kameraanwendungen in realen Szenarien

SWIR-Anwendungsbeispiel
Halbleiterbeobachtung

Siliziumwafer-Defekterkennung und -analyse
SWIR-Anwendungsbeispiel
Fernbeobachtung

Klare Bildgebung durch Dunst-Durchdringung
SWIR-Anwendungsbeispiel
Frucht-Feuchtigkeitsbeobachtung

Feuchtigkeitsgehalt-Erkennung und Qualitätsanalyse
SWIR-Anwendungsbeispiel
Temperaturbeobachtung

Bildgebungsüberwachung in Hochtemperaturumgebungen
SWIR-Anwendungsbeispiel
Landwirtschaftliche Spektral-Fernerkundung

UAV-Multispektralüberwachungsanwendungen
SWIR-Anwendungsbeispiel
Materialsortierung

Intelligente Kunststoffabfall-Klassifizierung
SWIR-Anwendungsbeispiel
Füllstandserkennung

Füllstandsüberwachung in undurchsichtigen Behältern
SWIR-Anwendungsbeispiel
Glas-Defekterkennung

Hochtemperatur-Glas-Durchdringungsinspektion

Weitere Anwendungsindustrie-Referenzen

  • Halbleiterindustrie: Solarzellen- und Chipinspektion
  • Landwirtschaft: Spektral-Fernerkundungsanwendungen über Multirotor-Flugzeuge
  • Recyclingindustrie: Materialsortierung von Kunststoffen, Abfall und anderen Materialien
  • Medizinische Bildgebung und Forschung: Hyperspektrale und multispektrale Bildgebung
  • Lebensmittelindustrie: Qualitätsinspektion und -klassifizierung
  • Getränkeindustrie: Füllstandserkennung in undurchsichtigen Behältern
  • Verpackung: Versiegelungsinspektion
  • Glasindustrie: Hochtemperatur-Glas-Durchdringungs-Defekterkennung
  • Druckindustrie: Durchsehen versteckter Merkmale
  • Videoüberwachung: Visuelle Verbesserung (z. B. Rauchdurchdringung)
  • Sicherheit: Fälschungserkennung, wie Währung, Perücken oder Haut